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  近日，苏州凌光红外科技有限公司（以下简称凌光红外）顺利完成数千万元的A轮融资。本轮融资由IDG资本、飞图创投领投，苏高新融享跟投，由坤远资本担任独家财务顾问。本轮资金大多数都用在已有电性失效分析设备的扩产、下一代失效分析设备研发以及市场开拓与推广。

  凌光红外成立于2021年12月，公司从始至终坚持正向研发，专注于高端实验室检验测试仪器的国产化，解决高精设备迫在眉睫的卡脖子问题。自2022年12月以来，在半导体电性失效分析领域，公司先后推出了制冷型锁相红外显微镜（Thermo 100）、非制冷型锁相红外显微镜（Thermo 50）、微光显微镜（InGaAs 100）等检测设备，在多个应用方向（终端、晶圆、功率器件、专业三方检测实验室等）分别交付于头部客户，性能比肩世界一流设备。

  失效分析（FA）是芯片工艺中的重要一环，用于定位和分析半导体芯片中的失效问题，对很多关键行业具备极其重大意义。在电子元器件的生产、 测试和使用阶段，还能够最终靠失效分析及时有效地发现失效和查找失效原因并提高生产效率。

  凌光红外所研发的Luxet Thermo系列锁相红外显微镜可以直接快速地透过IC 正面及背面来找出缺陷的位置。更可在 IC 未开盖的状态下先定位出失效点为 Die 或封装方面问题。该系列大范围的应用于功率器件、封装测试、第三代半导体、电路板等客户。Luxet EMMI系列的微光显微镜主要使用深度制冷近红外显微系统检测IC内部所放出的光子。和Luxet Thermo系列相比，其显微倍数更高，一般适用于漏电场景。

  凌光红外首席科学家侯达之表示:“很谢谢本轮及前轮投资人的信任。因为亲身经历了科研领域卡脖子的困境，我选择了创业研发道路。这一决定虽有偶然，但更多是时代赋予中国科研人的使命。我坚信，通过我们这一代的努力，能不断实现高端测试设备的国产化，让中国人可以更自由地参与国际化的科技竞争，不再受限，获得更大的发展空间。”

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